Patenteinspruchsbeschwerdeverfahren – “Verfahren zur Untersuchung einer Probe und konfokales Scan-Mikroskop” – zur erfinderischen Tätigkeit –besondere Abtastung beliebiger Bildbereiche mit einem Scan-Mikroskop – keine Vorwegnahme durch wird nicht von einer bekannten „zufälligen“ Abtastung bei einer bestimmten Anordnung ausgewählter Bildbereiche vorweggenommen
Patentbeschwerdeverfahren – “Leuchtmodul zur Abstrahlung von Mischlicht” – zur Verletzung des rechtlichen Gehörs bei der Zurückweisung einer Teilanmeldung ohne vorherigen Bescheid